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發布日期：2024/10/5
有效日期：2025/4/5
原 產 地：丹麥
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| DME原子力顯微鏡高精度工作臺： 適用于蔡司FE-SEMs 和SEM/AFM混合體系 高精度工作臺：在亞微米的樣品定位精度下尋找和發現你的目標區域（ROI） 樣品定位是流暢和有效工作流程的關鍵，尤其是當樣品需要多種方法觀察或其處于自動化進程中 借助集成的參比光，定位精度優于蔡司的標準樣品臺可以達到的500nm 尋找和發現ROI的過程能夠被更可靠的執行 |
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